Туннельный ток и высота зонда

В сканирующем туннельном микроскопе (СТМ) высоту острия над сканируемой поверхностью можно определять с очень высокой точностью: туннельный электронный ток между атомами поверхности и атомами острия чрезвычайно чувствителен к изменению зазора между ними от точки к точке поверхности. Предположим, что туннельный электронный ток прямо пропорционален вероятности туннелирования, а эта вероятность с хорошим приближением выражается экспонентой $e^{-2\beta L}$, где $\beta=10{,}0\,\mathrm{нм}^{-1}$. Определите отношение туннельного тока при высоте острия $0{,}500\,\mathrm{нм}$ над поверхностью к току при высоте $0{,}515\,\mathrm{нм}$.