Изменение тока при сканировании поверхности

Ток туннельных электронов в сканирующем туннельном микроскопе пропорционален вероятности туннелирования и зависит от расстояния $L$ между иглой и поверхностью как $I(L)=I_0e^{-2\beta L}$, где $\beta=10.0\,\mathrm{нм}^{-1}$. Какое процентное изменение тока должна обнаруживать электроника микроскопа, чтобы различать детали поверхности высотой около $0.00200\,\mathrm{нм}$?